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    絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量絕緣材料的電流

    點(diǎn)擊次數(shù):1296 更新時(shí)間:2021-08-02

    絕緣電阻是與帶電部件(住宅電纜)并聯(lián)的電阻。介電狀態(tài)和電阻狀態(tài)之間沒(méi)有jue對(duì)差異,因?yàn)楦鶕?jù)條件,同一物質(zhì)既可以是電介質(zhì)又可以是電阻器。區(qū)分物質(zhì)在電阻和電介質(zhì)中的行為的主要條件是基于麥克斯韋電介質(zhì)弛豫時(shí)間的概念,電介質(zhì)zui簡(jiǎn)單的等效電路是具有并聯(lián)電阻的電容器。

      真正的絕緣結(jié)構(gòu)并不總是由均勻的電介質(zhì)組成。它們可能包含不同電介質(zhì)的成分,也可能僅具有界面。即使在這種情況下,也會(huì)出現(xiàn)電導(dǎo)率的新特征,特別是,不僅應(yīng)考慮電介質(zhì)本身的電導(dǎo)率,還應(yīng)考慮界面。邊界的存在本身不會(huì)改變結(jié)構(gòu)的電導(dǎo)率,但是表面不可避免地包含化學(xué)活性元素。與空氣接觸時(shí),表面富含空氣中所含的物質(zhì)。已知即使與清潔的空氣接觸,水也被吸附在表面上,例如,在氧化物的表面上zui多可以包含100個(gè)分子層的水。發(fā)生表面電導(dǎo)率,即 電導(dǎo)率與電荷載體在表面上的出現(xiàn)和移動(dòng)有關(guān)。

      考慮到以絕緣電阻測(cè)試儀 為單位的表面電導(dǎo)電阻,例如MIC-1000電阻表,濕度計(jì)和電絕緣的老化程度,MIC-2500,MIC-5000和MIC-3絕緣表,接地導(dǎo)體和電勢(shì)均衡,請(qǐng)使用三重鉗位方法-高壓連接器得出“中點(diǎn)"-“ E"的結(jié)論。使用時(shí),要考慮表面電導(dǎo)率電流來(lái)調(diào)整結(jié)果。一個(gè)很好的例子是測(cè)量屏蔽層和一根電纜芯之間的絕緣電阻。

      黑色表示被測(cè)芯的絕緣層周?chē)薪饘俨?。在漏電流I R-E 和I E-COM不相等 的情況下,我們沿界面具有表面電導(dǎo)率的情況。

      絕緣電阻R ISO 表征通漏電流I SLE (R ISO = U adj / I SLE)。直通電流I cc (泄漏電流)在恒定電壓的影響下流過(guò)電介質(zhì),這是由于電介質(zhì)中存在不同性質(zhì)的自由載流子。

      在接通恒定電場(chǎng)時(shí),由于極化的快速形式,I cm的偏置電流流經(jīng)電容器的電介質(zhì)。

      在非極性均質(zhì)電介質(zhì)中,然后建立直通電流-I SLE。吸收電流也流過(guò)極性和非均質(zhì)的電介質(zhì)-I abs,這是由與延遲(松弛)極化建立相關(guān)的電流的有源分量引起的。

      為了在測(cè)量的初始階段排除大電流的流動(dòng),絕緣電阻表會(huì)限制流動(dòng)的電流量,從而消除對(duì)絕緣的可能損害。輸出電流限制為1 mA。

      隨著被測(cè)物體的電容充電(通過(guò)直流電),兆歐表端子上的電壓(線(xiàn)性)增加。然后設(shè)定工作點(diǎn)-電壓達(dá)到設(shè)定值并且電流穩(wěn)定(該電流是電介質(zhì)I SLE的通過(guò)電流)。

      在測(cè)量過(guò)程中累積的電荷是潛在威脅的來(lái)源,在設(shè)備測(cè)量結(jié)束時(shí),電荷會(huì)自動(dòng)放電(通過(guò)內(nèi)部電阻器)。在恒定電壓下進(jìn)行測(cè)量以zui大程度地減小電容對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

      從操作的角度來(lái)看,絕緣材料的狀態(tài)由兩個(gè)系數(shù)來(lái)表征-吸收系數(shù)(介電吸收比-DAR)和極化指數(shù)(極化指數(shù)-PI)。

      吸收系數(shù)表征絕緣材料的水分含量。吸收系數(shù)是絕緣電阻測(cè)試儀在施加電壓后60秒鐘(R 60)和從絕緣電阻測(cè)試儀開(kāi)始施加測(cè)試電壓(R 15)后15秒鐘測(cè)得的電阻之比:abs = R 60 / R 15。


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